您好,欢迎访问深圳市鑫卓利电子有限公司!

热门关键词:测试夹具·治具类    手机BGA·屏蔽箱类    平板式耦合器    精密零件CNC加工件

服务与技术

✜ 联系我们

联系人:习云青(13713718008)
电话:0755-27911929
传真:0755-27911663
邮箱:szxinzhuotest@163.com
网址:http://www.szxinzhuoli.com
地址:深圳市宝安区西乡固戍华丰第二工业园C1栋A座5楼
服务与技术您现在的位置:首页 > 服务与技术 > 服务与技术

ICT 测试不良原因分析

发布人:管理员    发布时间:2020-04-24

1. 开路不良:( 常由探针接触不良所致 )
开路不良只针对某一短路群而言,例如:有短路群: ( 1,4,10,12 ) , ICT测试出1,10开路不良,表示 PCB 上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω(或55-85Ω),可以用万用表在 PCB 上的测试点上进行验证;可能原因:
1) 测试针坏掉,或针型与待测板上的测试点不适合;
2) 测试点上有松香等绝缘物品;
3) 某一元器件漏装、焊接不良、错件等;
4) 继电器、开关或变阻器的位置有变化;
5) PCB 上铜箔断裂,或 Via Hole 与铜箔之间 Open 。
2. 短路不良: (短路不良要[敏感词]优先处理,而开路不良常常由于探针接触不良所致)

短路不良指两个点(不在同一短路群内,即 本来应该大 于25Ω(或25-55Ω))的电阻小于5Ω(或5-15Ω) , 可以用万用表在 PCB 上的测试点上进行验证; 可能原因:
1) 连焊(应该在两个 NET 相关的焊接点上寻找);
2) 错件,多装器件;
3) 继电器、开关或变阻器的位置有变化;
4) 测试针接触到别的器件;
5) PCB 上铜箔之间短路;

3. 元器件不良:
测试值偏差超差比较小,则可能原因:
1) 器件本身的偏差就这么大;
2) 测试针的接触电阻较大;
3) 错件、焊接不良、反装;

测试值偏差超差比较大,则可能原因:
1)器件坏掉;
2)测试针坏掉(与该针相连的器件均超差比较大)
3)测试点上有松香等绝缘物品;
4) PCB 上铜箔断裂,或 Via Hole 与铜箔之间 Open 。
5)错件、漏件、反装;
6)器件焊接不良;

4. IC 空焊不良(以T est J et 测试):
测试值偏小,可能原因:
1) IC 的此脚空焊;
2) 测试针接触不良;
3) 从测试点至IC脚之间 Open 。
4) IC 此脚的内部不良(可能性极少);
测试值偏大,可能原因:
1) 有短路现象;
2) IC 此脚的内部不良(可能性极少)。

其他:
当 R 、 L 测试值偏差为99 .99% , D 、 Q 测试值为 2V 左右及电容测试值为0时,并且几个器件均有同一测试针时,可能原因:该测试针坏掉,或测试点接触不良,或 PCB 上铜箔断裂,或 Via Hole 与铜箔之间 Open
首页 关于我们 治具类产品 ATE自动化设备 服务与技术 人才招聘 联系我们
联系人:习云青(13713718008)
电话:0755-27911929 
传真:0755-27911663
邮箱:szxinzhuotest@163.com
网址:http://www.szxinzhuoli.com
地址:深圳市宝安区西乡固戍华丰第二工业园C1栋A座5楼
Copyright © 2020 深圳市鑫卓利电子有限公司 All Rights Reserve     粤ICP备11038318号

关注官方二维码

在线
客服

在线客服服务时间:9:00-18:00

选择下列客服马上在线沟通:

客服
热线

0755-27911929
7*24小时客服服务热线

关注
我们

关注我们
顶部